行业/方案背景
随着电子技术的迅猛发展,电子元器件越来越广泛地用于工业自动化控制、计算机、战略武器系统、航天航空用电子设备和民用电子产品等。特别是半导体分立器件，因此提高分立器件的可靠性也就显得越来越重要,已经受到世界各国电子行业的高度重视，认为这是提高电子产品声誉和竞争力的关键。
理论上说,半导体器件的失效要比电子设备本身失效来得迟，但由于在结构精细、制造工艺复杂、工序繁多的生产过程中，不可避免地会给器件留下潜在的缺陷，而使器件的可靠性水平不能达到设计中的预定要求。此种缺陷一般分为二类，一类是质量缺陷：即用一般的测试和质量控制手段可以发现的缺陷。如器件的芯片裂纹，表面粘附粒子，缺铝等。另一类是潜在缺陷：即用一般的测试和质量控制手段是不能发现的，须对元器件施加应力(包括电,热等)，使缺陷激活并加速暴露，使元器件产生"早期失效"(所谓"早期失效"就是缺陷受到激活并对器件产生不良影响)。如：硅片表面沾污，焊接空洞，芯片和管壳热阻匹配不良等。
方案概述
如果对每个元器件都进行1000h试验,一般来说是不经济的,也是不可行的。为了能尽快地，有效地剔除存有各种缺陷的元器件，这就需要加应力老化。实践证明,如果对元器件施加相应的应力进行老化,就能加速使器件产生早期失效。
半导体分立器件在生产过程中由于选材、设计及工艺中存在缺陷而产生的介质击穿、局部热点、漏电流增大、漏液等失效模式。设备可以根据MIL-STD-750、GJB-128等试验方法的要求，对分立器件施加温度应力、电应力和时间条件，激活被试验器件，迅速暴露器件潜在缺陷而提早进入早期失效期。
解决方案价值/亮点
杭州中安电子有限公司集国内电子元器件老化筛选设备研制和生产之精英，从事各类电子元器件老化设备研究和开发已有多年历史，为提高我国军用重点工程和武器装备配套用电子元器件的可靠性做出了一定成绩，已完成了电子部下达的多个科研项目。公司不断汲取国外同类产品优点和广大用户的宝贵意见，
现以最新概念和面貌推出的针对各种电子元器件的高温老化系统，必将为提高我国各类分立器件的使用可靠性带来积极的推动作用。是广大元器件生产厂、研究所及其它所有器件使用单位理想的老化筛选设备
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