杭州中安电子，行业领先的可靠性老化试验设备生产商，始于1996，国家高新技术企业，秉持【让元器件更可靠】的理念

SiC晶圆高温老化测试

SiC晶圆高温老化测试系统

· WLXB6000pro (SiC Wafer Level)

· WLBI-A8000
全自动老化产线

全自动SiC/IGBT模块高温老化试验产线

· BTR-A660(烘箱型)

· BTR-A668(热板型)

· T668A(热台型+模块)

· T660A(烘箱型+单管/模块)

全自动功率单管老化产线

· BTR-A600

全自动晶圆高温老化测试产线

· WLBI-A8000pro

全自动无功功率老化测试产线

· BTW-A338 (IGBT/SiC模块)

全自动集成电路老化产线

· BTI-A3300

自动上下料机

· BIB-T718A(全自动上下料)

· IC-ALU
高温偏置类老化系统

高温反偏（HTRB/HTGB）

· BTR-T600pro(HTRB/HTGB/HTXB)

· BTR-X600(功率单管HTRB)

· BTR-T668(功率模块HTRB-热台型)

· BTR-T660(功率模块HTRB-烘箱型)

· BTR-T660pro(功率模块HTRB/HTGB)

· BTR-T640(微波SiC/GaN)

· BTR-T610(超高压6000V)

动态高温反偏/栅偏(DHTRB/DHTGB)

· BTR-T653(DH3TRB)

· BTR-T652(DHTGB / DGS)

· BTR-T651(DHTRB)

高温高湿（H3TRB）

· BTR-T671(16通道/一体机)

· BTR-T676(IGBT/SiC模块H3TRB)

高加速寿命试验（HAST）

· HAST / B-HAST(高加速应力试验)
正向功率老化系统

间歇寿命试验（IOL）

· BTD-T810(IOL-△Tj测试)

· MK-T8000(K系数测试仪)

功率循环（Power Cycling）

· BTW-T330(功率循环Power Cycling)

· MK-T8100(热阻测试仪)

· BTW-T333(单管水冷型IOL)

无功功率试验系统

· BTW-T338(无功功率老化测试)

高低温功率循环（PTC）

· BTD-T877(Power&Temperature Cycling)

综合老化（HTOL / Operation Life）

· BTD-T800(16通道)

· BTD-T800T(高温型)

二极管可靠性试验系统

· BTD-T890(稳压二极管300V/600V)

· BTD-T870(全动态)
集成电路老化测试系统

集成电路（HTOL-IC）

· BTI-X3800(600W)

· BTI-X3360 (≤15W)

· BTI-X3600 (≤50W 独立温控)

· BTI-X3300 (≤5W)

· BTI-X3300Se

· BTI-T3000(16通道)

· BTI-X3360(验板机)

· IC-ALU

· BTI-X3300(独立温控)
电源模块/继电器

电源模块（能量反馈型）

· BTE-T283(16通道)

· BTE-T285(大功率老化房)

· BTS-T280

继电器高温老化系统

· BTSR-T160(固态继电器)

· BTR-T180(电磁继电器)

其他More

· BTI-T3900(晶体振荡器)

· BTE-T252(三端稳压器)

· BTD-T886(光电器件/光通讯模块)

· BTD-T886(光电器件/光通讯模块)

· BTD-T910(电阻器)
电容器高温试验设备

电容器可靠性试验

· BTC-T400(16通道)

· BTC-T400H(超高压6000V)

· BTC-T481(威布尔weibull/钽电容)

· MLCC电参数自动化测试系统

· BTC-X4000(MLCC 10000units)
微波器件老化试验

微波功率器件直流老化

· BTW-T550(10W以上)

· BTW-T530(10W以下)

微波功率器件射频老化

· BTW-T560(VCO / 10W以上)

· BTW-T540(VCO / 10W以下)

· BTW-T598
配件系列

老化测试座

· 老化测试座Test socket定制

老化板

· 老化板Burn-in Board 定制

夹具/治具

· 射频夹具 RF fixture

迪派大功率直流电源

· EMT-101

· 中安下属子公司(迪派电源)

连接器

· 高温连接器

产品详情

首页 > 产品中心 > Power Cycling > BTD-E800(16 slots)

BTD-E800(16 slots)

Discrete Device Burn-in System -Standard type

The system is designed to perform CFOL / IOL/ Forward Power Burn-in Screening for various packages' semiconductor discrete device such as small&midium power diode,transistor,FET,SCR etc.

试验标准

产品特点

E-load *16

With 16 constant current E-load per slot, greatly improve burn-in ability for two-terminal device.
Auto-loading Parametre

Auto-apply Temp.Voltage and other parm.to the DUT according to the software setting.
CFOL/IOL

The user can choose CFOL or IOL test thru software
Auto-conversion of polarity

The polarity conversion unit can automatically identify the BIB N/P , cooperate with the polarity definition of PC software, which ensure the correct polarity with easy operation

产品参数

Chamber: Type

Air-cooled chamber; Dimension

600*330*610(mm); Air circulating

Horizontal air circulating design; QTY.

2 sets; Temperature

Ambient

Capacity: Zone QTY.

4; Slot

16; DUT per slot/ Total

64/1024

Power Supply: QTY.

V b *4 sets + V c *4 sets; Output

Max120V

Driver Board: QTY.

16pcs; Constant current source /slot

16 channels; Constant current source range

0～1.00A/channel; Current detection range

0.0mA～10.00A；accuracy：±(1％ + 1LSB); Voltage detection range

0.0V～199.9V；accuracy：±(1％ + 1LSB)

Burn-in Board: Substrate material

Standard substrate (100℃); Dimension

290 * 452 (mm)

Equipment: Dimension

1300W*1200D*1900H(mm); Electrical requirement

A.C.220V±10％ / 50Hz; Power/Weight

8KW / 500kg

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