杭州中安电子，行业领先的可靠性老化试验设备生产商，始于1996，国家高新技术企业，秉持【让元器件更可靠】的理念

产品详情

BTD-T886(光电器件/光通讯模块)

光电耦合器老化系统(OC)

统能满足各种封装形式（包括SMD表面贴装）和光电耦合器、发光二极管等元器件的稳态寿命试验和功率老炼筛选。系统的整个试验过程采样程控方式进行，对温度与电源进行程控调节。系统对产品的输入端进行老练与高温反偏，通过调整输入端不同条件来模拟产品的不同使用过程，全程监控产品的漏电流与电压，温度等参数。

┃ 高温试验箱	R.T.~（175℃ / 200℃）；温度均匀性：150℃±3℃(空载)；

┃ 容量	16个试验通道；单板64个工位 / 整机1024工位（视具体情况而定）；

┃ 试验电源	配置16台（一台电源对应一个试验区）Max 100.0V；

┃ 驱动板数量	16块；
	电压检测范围：输入端：0V～100V,分辨率：0.01V
	电流检测范围： 1.0mA～250.0mA,分辨率：0.01mA 脉冲频率范围：10.0kHz~100.0kHz，占空比50%；

产品参数

容量: 独立试验区数量

标配4个（可增至8个区）; 试验通道

16个; 总容量

整机老化发光二极管时为1024个（串联时更多）；整机老化光电耦合器时，单光耦为896个，双光耦为448个，四光耦为228个（串联时更多）

驱动检测板: 驱动板数量

16块; 试验电压检测

范围：0.0V～50.0V；精度：±1％＋0.1V; 试验电流检测

范围：0.0mA～200.0mA；精度：±(1％＋1LSB); 电子负载数量

单通道56路 / 整机896路; 负载电流范围

0～200mA

整机信息: 尺寸

1300W*1200D*1900H(mm); 电网要求

A.C.220V±10％ / 50Hz; 功率 / 重量

8KW / 600KG

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