0571-85123400
中安
中安
BTI-X3300(独立温控)
集成电路老化测试系统(600W独立温控)

 高温试验箱

独立测试区域:≥1个


试验温度: 室温+10°C~150°C


独立温控温度范围:150°C+1°C; Resolution: 0.1°C


单腔体通道数:14slots,(横向)


单板卡site数量:≥16


老化板尺寸:570*609(mm);板间距:100mm


腔体温控:25°C~40°C(0.1°CResolution);风冷(配合散热器水冷)


温控模式:壳温控温和结温控温


腔体热耗散能力:38KW


具备独立控温功能、分别设定和控制温度;



 系统信号激励

Pattern Zone:14


I/O Channel:256ch;IO 电压域:四组


Frequency:20MHZ

Vector Memory:64M Words (128M Max)

Format:X or .Q/L/H/0/1/N/P;支持码型:NR/RH/RL/SBC


Error Log:2K(per I/O)


VIH,VIL:VIH=0V~5.5V;VIL Level:Fixed 0V


电平分辨率:≤10mV


驱动电流能力:±100mA


输出信号边沿属性:Tr≤10ns ,Tf≤10ns


窗口比较器参考电平范围:VOH/VOL:0~4.5V,兼容LVCMOS、LVTTL等



 DPS电源

14ch per BIB (default)

 

1~14 supplies

0.V~5.5V

分辨率:2mV

最大输出: 50A, 200W  

纹波(Vpp):≤20mV


电压检测精度:≤0.3%Vset±10mV


电流检测精度:1.5%×I±0.125A


单块板卡输出功率:≤5000W


单通道电源最大负载电流:≥1000A



 保护功能

具备过压保护(OVP)、欠压保护(UVP)、过流保护(OCP)、欠流保护(UCP)、高温保护(OTP)



 上位机

支持测试程序编辑、执行、监控和数据分析,支持标准测试向量格式导入,需要配备厂商自研的向量转换工具,支持设备自检功能(如WGL、STIL、VCD等);

具备实时数据采集功能,可实时监控每颗DUT的电压、电流、温度、测试状态等参数;

具备日志记录与报警管理功能,所有操作日志、测试数据、异常事件自动记录并存储,支持按时间、Slot、DUT编号等条件检索;

支持用户权限管理,可配置不同角色(管理员、工程师、操作员)的操作权限,保障系统安全。

其他型号
了解中安
中安 研发&制造
中安 售后支持
中安 销售服务
中安电子微信公众号 中安
© 2009 - 2017 杭州中安电子版权所有 浙ICP备08112330号 | 网站建设翰臣科技