┃ 高温试验箱 | 独立测试区域:≥1个 |
试验温度: 室温+10°C~150°C | |
独立温控温度范围:150°C+1°C; Resolution: 0.1°C | |
单腔体通道数:14slots,(横向) | |
单板卡site数量:≥16 | |
老化板尺寸:570*609(mm);板间距:100mm | |
腔体温控:25°C~40°C(0.1°CResolution);风冷(配合散热器水冷) | |
温控模式:壳温控温和结温控温 | |
腔体热耗散能力:38KW | |
具备独立控温功能、分别设定和控制温度; | |
┃ 系统信号激励 | Pattern Zone:14 |
I/O Channel:256ch;IO 电压域:四组 | |
Frequency:20MHZ | |
Vector Memory:64M Words (128M Max) | |
Format:X or .Q/L/H/0/1/N/P;支持码型:NR/RH/RL/SBC | |
Error Log:2K(per I/O) | |
VIH,VIL:VIH=0V~5.5V;VIL Level:Fixed 0V | |
电平分辨率:≤10mV | |
驱动电流能力:±100mA | |
输出信号边沿属性:Tr≤10ns ,Tf≤10ns | |
窗口比较器参考电平范围:VOH/VOL:0~4.5V,兼容LVCMOS、LVTTL等 | |
┃ DPS电源 14ch per BIB (default)
| 1~14 supplies 0.V~5.5V 分辨率:2mV 最大输出: 50A, 200W 纹波(Vpp):≤20mV |
电压检测精度:≤0.3%Vset±10mV | |
电流检测精度:1.5%×I±0.125A | |
单块板卡输出功率:≤5000W | |
单通道电源最大负载电流:≥1000A | |
┃ 保护功能 | 具备过压保护(OVP)、欠压保护(UVP)、过流保护(OCP)、欠流保护(UCP)、高温保护(OTP) |
┃ 上位机 | 支持测试程序编辑、执行、监控和数据分析,支持标准测试向量格式导入,需要配备厂商自研的向量转换工具,支持设备自检功能(如WGL、STIL、VCD等); 具备实时数据采集功能,可实时监控每颗DUT的电压、电流、温度、测试状态等参数; 具备日志记录与报警管理功能,所有操作日志、测试数据、异常事件自动记录并存储,支持按时间、Slot、DUT编号等条件检索; 支持用户权限管理,可配置不同角色(管理员、工程师、操作员)的操作权限,保障系统安全。 |