+86-571-85123400
中文   |English
Product Detail
Index > Product Center > ATE > STS-700(Ambient)
中安
中安 中安
STS-700(Ambient)
Discrete Device Tester--Ambient

The system can test various parameters for DUT including diode,transistor,FET,three-terminal regulator,SCR etc.


Test Item：

┃ Diode

IR、VZ、VF、IRDD etc.;

┃ Transistor

ICEO、BVCEO、IB、HFE、BTON、VFBC etc.;

┃ FET

IDSO、ISGS、BVDGO、VP、VFGD etc.;

┃ SCR（optional）

IDRM(S,R)、IRRM、IGT1(T+,G+)、VGT1(T+,G+) etc.;

┃ Three-termina regulator（optional）

INPUTI ISC IQIN IPEAK VOUTCK VOUTX DROP etc.;


Product Features
Product Parameters
Host parameters
LV
Voltage initiation:±(100mV~30V) 0.5%+2mV； Current initiation:±(100nA ~20.0A) 0.5%+3nA
HV
Voltage initiation:±(1V~999.9V) 0.5%+20mV
DET
Voltage detection:±(0mV~30V) 0.5%+2mV；Current detection:±(1mA~20A) 0.5%+2LSB
Head
Voltage detection:±(0.000V ~ 999.9V) 0.5%+2mV；Current detection:±(000.0nA~999.9μA) 0.5%+20LSB
IPC
Configuration
Industrial PC * 1, pre installed with Windows Genuine operating system
Learn More
中安 R & d & Manufacturing
中安 After-sales Support
中安 Sales And Service
Wechat Of Zoan Electronics 中安
　　　
© 2009 - 2017 杭州中安电子版权所有 浙ICP备08112330号 | 网站建设 翰臣科技
友情链接：杭州爱佩特自动化测试有限公司，杭州迪派电源技术有限公司